在线播放免费人成毛_激情一级精亚洲品_午夜福利欧美日本视频_免费无遮挡又黄又爽网站无码国产_综合在线第一页日韩中文字幕_丝袜美腿精品视频六区_岛国在线永久免费视频_2023已更新今日更新软件下载_国产av无码专区亚洲av偷_五月丁香亚洲综合499ee

您好,歡迎進入 北京英格海德分析技術(shù)有限公司網(wǎng)站!

010-5272-2415/6/7/8
當前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  等離子體-材料表面 > 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS
型號:TOF-qSIMS

飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS

描述:品牌:Hiden 型號:TOF-qSIMS 制造商:Hiden Analytical Ltd 產(chǎn)地: 英國

  • 廠商性質(zhì)

    進口
  • 更新時間

    2020-11-23
  • 訪問量

    1118
詳細介紹


Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。

TOF-qSIMS Workstation 包含了四極桿質(zhì)譜和飛行時間質(zhì)譜。

四極桿qSIMS主要用于摻雜物深度剖析和薄層分析,低入射能力,高入射電流,濺射和分析連續(xù)進行,是典型的Dynamic SIMS 動態(tài)SIMS。

飛行時間二次離子質(zhì)譜TOF-SIMS使用飛行時間質(zhì)譜,質(zhì)量數(shù)范圍寬,質(zhì)量分辨率高,且測量速度快(瞬間得到全譜)。離子槍僅需要一次脈沖濺射,即可得到全譜,對表面幾乎無破壞作用。因脈沖模式分析,且電流小,所以產(chǎn)生的二次離子比率相對少,靈敏度相比動態(tài)SIMS弱,但成像和表面分析能力強,是典型的Stactic SIMS 靜態(tài)SIMS。

TOF-qSIMS workstation 綜合了Quadrupole SIMS 和 TOF-SIMS的優(yōu)點,可以分析所有的導體、半導體、絕緣材料;對硅、高k、硅鍺以及III-V族化合物等復合材料的薄層提供超淺深度剖析、痕量元素和組分測量等一系列擴展功能。對于材料/產(chǎn)品表面成分及分布,表面添加組分、雜質(zhì)組分、表面多層結(jié)構(gòu)/鍍膜成分、表面異物殘留(污染物、顆粒物、腐蝕物等)、表面痕量摻雜、表面改性、表面缺陷(劃痕、凸起)等有很好的表征能力。



 

一臺SIMS同時提供四極桿質(zhì)譜和飛行時間質(zhì)譜

靜態(tài)SIMS  Static SIMS

動態(tài)SIMS  Dynamic SIMS

Ar+, O2+, Cs+, Ga+ 等多種離子槍

樣品 3D成像分析

檢測限低于ppm

SNMS 離子源,二次中性粒子譜

二次離子質(zhì)譜成像軟件,靜態(tài)二次離子質(zhì)譜圖庫,二次離子質(zhì)譜后處理軟件

詳情請聯(lián)系 info@hiden.cn

SIMS APPLICATIONS

MCsn+ molecular ion – SIMS for direct chemical analysis of nanostructures without calibration standards

 



 

 
產(chǎn)品咨詢

留言框

  • *產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • *您的姓名:

  • *聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 留言內(nèi)容:

  • *驗證碼:

全國統(tǒng)一服務(wù)電話

010-5272-2415/6/7/8

電子郵箱:Info@hiden.cn

公司地址:北京市海淀區(qū)四季青路8號酈城工作區(qū)235室

掃碼加微信

TEL:18610082868

掃碼加微信