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描述:品 牌:HIDEN 型 號:HPR-20 DLS 產 地:英國 制造商:Hiden Analytical Ltd
Hiden HPR-20 DLS高分辨率氣體分析質譜儀,配置大氣壓取樣系統(tǒng),在接近大氣壓力下對氣體和蒸汽進行連續(xù)分析,可提供更高壓力到30bar的直接取樣入口系統(tǒng)。質譜儀包括一種超高分辨率模式,專門用于氫同位素和輕氣體的低質量分析。
Hiden QIC石英內襯采樣接口在高達200攝氏度的溫度下運行,可為包括水蒸氣在內的大多數常見氣體和蒸汽提供不到300毫秒的快速響應時間。
HPR-20 DLS包括Hiden的DLS-20三極濾四極質譜儀,四極桿直徑為20 mm。
質量數范圍:1~20/200 amu
20amu 量程用于 H, He 同位素的超高分辨率檢測
200amu 量程擴展檢測質量數范圍,可測量 Kr,Xe 及其同位素
檢測器:PIC 脈沖離子計數檢測器
7 個數量級的寬動態(tài)范圍,這意味著極佳的信噪比,同時觀測到高含量和痕量的組分。
檢測速度快,時間分辨可達 1us,檢測速度可達 500 點/秒。
1.質量數范圍:1-20/200 amu
2.分辨率:
20amu量程,在 He 的分辨率可達 1000(m/δm,δm FWHM),可區(qū)分HD 和 3He 200amu 量程,豐都靈敏度+1 amu 低于 1ppm
3.檢測限:5 ppb,空氣中 Xe 可檢測至 128,134,136
4.響應時間:約 1 秒
5.掃描速度:可達 500 點/秒
6.取樣壓力:0.1-2 bar
7.取樣流量:1-20 sccm
8.可選配 VICI 的多路進樣閥,8 路,20 、 40 、 80 路進樣