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描述:The IMP-EPD is a differentially pumped, ruggedised secondary ion mass spectrometer for the analysis of secondary ions and neutrals from the ion beam etch process.
IMP離子蝕刻探針(Ion Milling Probe),自帶差式泵,堅(jiān)固的二次離子質(zhì)譜儀,適于分析離子蝕刻過(guò)程中的二次離子和中性粒子。獨(dú)有的專業(yè)終點(diǎn)檢測(cè)(End Point Detection)儀器,用于離子蝕刻控制以及過(guò)程質(zhì)量最優(yōu)化監(jiān)測(cè)。
·差式泵歧管,經(jīng)連接法蘭,接到過(guò)程室
·高靈敏度的 SIMS / MS,帶脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 IMP Series End Point Detectors (903 KB) Mass Spectrometers for Thin Films, Plasma and Surface Engineering (1.1 MB) IBM Almaden Research Center | Advanced Instrumentation Nanodevice Fabrication : Ion Beam Nano-Fabrication |
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