您好,歡迎進(jìn)入 北京英格海德分析技術(shù)有限公司網(wǎng)站!
描述:The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.
MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽(yáng)離子動(dòng)態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。
·光柵控制,增強(qiáng)深度分析能力
·質(zhì)量數(shù)范圍: 300amu,500amu,1000amu ·檢測(cè)器: 離子計(jì)數(shù)探測(cè)器、正負(fù)離子探測(cè)器、107 cps ·質(zhì)量過(guò)濾器: 3F四級(jí)桿 ·桿直徑: 9mm ·最高加熱: 250℃ ·離子源: 電子轟擊,可用于SNMS和RGA的單根燈絲 MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB) AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB) |
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
related articles全國(guó)統(tǒng)一服務(wù)電話
010-5272-2415/6/7/8電子郵箱:Info@hiden.cn
公司地址:北京市海淀區(qū)四季青路8號(hào)酈城工作區(qū)235室
掃碼加微信