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型號(hào):

二次離子/濺射中性粒子質(zhì)譜儀

描述:The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

  • 廠商性質(zhì)

  • 更新時(shí)間

    2020-11-23
  • 訪問(wèn)量

    661
詳細(xì)介紹

MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽(yáng)離子動(dòng)態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應(yīng)用于SIMSSNMS的光學(xué)采樣。

 

·光柵控制,增強(qiáng)深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi),離子行程的最小擾動(dòng),及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器

 

·質(zhì)量數(shù)范圍:   300amu,500amu,1000amu

·檢測(cè)器:         離子計(jì)數(shù)探測(cè)器、正負(fù)離子探測(cè)器、10cps

·質(zhì)量過(guò)濾器:   3F四級(jí)桿

·桿直徑:         9mm

·最高加熱:      250

·離子源:         電子轟擊,可用于SNMSRGA的單根燈絲


MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

 
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