二次離子質(zhì)譜探針

描述：EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用最新技術(shù)的SIMS 探針，便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。

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詳細(xì)介紹

EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用最新技術(shù)的SIMS 探針，便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。

·光柵控制，增強(qiáng)深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動，及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器

·質(zhì)量數(shù)范圍： 300amu，500amu，1000amu

·檢測器：離子計數(shù)探測器、正負(fù)離子探測器、10⁷cps

·質(zhì)量過濾器： 3F四級桿

·桿直徑： 9mm

·最高加熱： 250℃

·離子源：電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

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